Control of Yeast Fed-Batch Cultures using Minimal a priori Process Knowledge and Measurement Information - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Process Control Année : 2006

Control of Yeast Fed-Batch Cultures using Minimal a priori Process Knowledge and Measurement Information

F. Renard
  • Fonction : Auteur
A. Vande Wouwer
  • Fonction : Auteur
S. Valentinotti
  • Fonction : Auteur
Didier Dumur
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https://centralesupelec.hal.science/hal-00279668

Soumis le : jeudi 15 mai 2008-09:31:27

Dernière modification le : mardi 14 février 2023-03:37:50

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Dates et versions

hal-00279668 , version 1 (15-05-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00279668 , version 1

Citer

F. Renard, A. Vande Wouwer, S. Valentinotti, Didier Dumur. Control of Yeast Fed-Batch Cultures using Minimal a priori Process Knowledge and Measurement Information. Journal of Process Control, 2006, pp.1-10. ⟨hal-00279668⟩

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