Capacitance measurements on small parallel plate capacitors using nanoscale impedance microscopy - CentraleSupélec

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Article Dans Une Revue Applied Physics Letters Année : 2007

Capacitance measurements on small parallel plate capacitors using nanoscale impedance microscopy

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Olivier Schneegans

Fonction : Auteur
PersonId : 15895
IdHAL : olivier-schneegans
ORCID : 0000-0001-9741-3327
IdRef : 18007007X

Laboratoire de génie électrique de Paris

Frédéric Houzé

Fonction : Auteur
PersonId : 13067
IdHAL : frederic-houze
ORCID : 0000-0001-8054-3184
IdRef : 15620584X

Laboratoire de génie électrique de Paris

Pascal Chrétien

Fonction : Auteur
PersonId : 5981
IdHAL : pascal-chretien
ORCID : 0009-0005-5177-1360

Laboratoire de génie électrique de Paris

René Meyer

Fonction : Auteur

Laboratoire de génie électrique de Paris

Olivier Schneegans : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00320357

Soumis le : mercredi 10 septembre 2008-17:26:49

Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-11:28:54

Dates et versions

hal-00320357 , version 1 (10-09-2008)

Identifiants

HAL Id : hal-00320357 , version 1

Citer

Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, René Meyer. Capacitance measurements on small parallel plate capacitors using nanoscale impedance microscopy. Applied Physics Letters, 2007, 90, pp.043116. ⟨hal-00320357⟩

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