Microscopie à Force Atomique à Pointe Conductrice : carctérisations électriques et modifications physico-chimiques de matériaux par un instrument en développement - Archive ouverte HAL Access content directly
Other Publications Year : 2007

Microscopie à Force Atomique à Pointe Conductrice : carctérisations électriques et modifications physico-chimiques de matériaux par un instrument en développement

Olivier Schneegans
Laboratoire de génie électrique de Paris

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Submitted on : Wednesday, September 10, 2008-6:27:34 PM

Last modification on : Friday, March 24, 2023-2:52:50 PM

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hal-00320403 , version 1 (10-09-2008)

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  • HAL Id : hal-00320403 , version 1

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Olivier Schneegans. Microscopie à Force Atomique à Pointe Conductrice : carctérisations électriques et modifications physico-chimiques de matériaux par un instrument en développement. 2007. ⟨hal-00320403⟩

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