Electrical characterization of ITO/CuPc/Al diodes using temperature dependent capacitance spectroscopy and I-V measurements - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Non-Crystalline Solids Année : 2004

Electrical characterization of ITO/CuPc/Al diodes using temperature dependent capacitance spectroscopy and I-V measurements

F.T. Reis
  • Fonction : Auteur
Denis Mencaraglia
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Sidi Ould Saad
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Isabelle Séguy
M. Oukachmih
  • Fonction : Auteur
Pascale Jolinat
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1247389
P. Destruel
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1248406
  • IdRef : 075883791

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00320881

Soumis le : jeudi 11 septembre 2008-18:04:02

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

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Dates et versions

hal-00320881 , version 1 (11-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00320881 , version 1

Citer

F.T. Reis, Denis Mencaraglia, Sidi Ould Saad, Isabelle Séguy, M. Oukachmih, et al.. Electrical characterization of ITO/CuPc/Al diodes using temperature dependent capacitance spectroscopy and I-V measurements. Journal of Non-Crystalline Solids, 2004, 338-340, pp.599-602. ⟨hal-00320881⟩

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