Determination of bandgap states characteristics using the modulated photocurrent technique in both low and high frequency regimes - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2004

Determination of bandgap states characteristics using the modulated photocurrent technique in both low and high frequency regimes

Jean-Paul Kleider
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Christophe Longeaud
Laboratoire de génie électrique de Paris
Marie-Estelle Gueunier
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00321032

Soumis le : vendredi 12 septembre 2008-10:23:17

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00321032 , version 1 (12-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00321032 , version 1

Citer

Jean-Paul Kleider, Christophe Longeaud, Marie-Estelle Gueunier. Determination of bandgap states characteristics using the modulated photocurrent technique in both low and high frequency regimes. 4th AMS (international conference on Amorphous and Microcrystalline Semiconductors), 2004, Russia. ⟨hal-00321032⟩

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