Caractérisation d'interface de hétérojonctions a-Si:H/c-Si par spectroscopie de capacité sous polarisation directe - Archive ouverte HAL Access content directly
Conference Papers Year : 2005

Caractérisation d'interface de hétérojonctions a-Si:H/c-Si par spectroscopie de capacité sous polarisation directe

Alexander Gudovskikh
  • Function : Author
Laboratoire de génie électrique de Paris
Jean-Paul Kleider
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
J. Damon-Lacoste
  • Function : Author
Pere Roca I Cabarrocas
Y. Veschetti
  • Function : Author
P.J. Ribeyron
  • Function : Author

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https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-00321554

Submitted on : Monday, September 15, 2008-12:04:18 PM

Last modification on : Tuesday, February 14, 2023-3:35:49 AM

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Dates and versions

hal-00321554 , version 1 (15-09-2008)

Identifiers

  • HAL Id : hal-00321554 , version 1

Cite

Alexander Gudovskikh, Jean-Paul Kleider, J. Damon-Lacoste, Pere Roca I Cabarrocas, Y. Veschetti, et al.. Caractérisation d'interface de hétérojonctions a-Si:H/c-Si par spectroscopie de capacité sous polarisation directe. Séminaire ADEME-CEA-CNRS, 2005, France. ⟨hal-00321554⟩

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