Local electrical characterization of Schottky diodes on H-terminated diamond surfaces by conducting probe atomic force microscopy - CentraleSupélec

Documentation
Français (FR)

Anglais (EN)

Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Local electrical characterization of Schottky diodes on H-terminated diamond surfaces by conducting probe atomic force microscopy

(1) , (1) , (1) , , ,

1

Frédéric Houzé

Fonction : Auteur
PersonId : 13067
IdHAL : frederic-houze
ORCID : 0000-0001-8054-3184
IdRef : 15620584X

Laboratoire de génie électrique de Paris

José Alvarez

Fonction : Auteur
PersonId : 5252
IdHAL : jose-alvarez
ORCID : 0000-0003-3558-8302
IdRef : 089018222

Laboratoire de génie électrique de Paris

Jean-Paul Kleider

Fonction : Auteur
PersonId : 5984
IdHAL : jean-paul-kleider
ORCID : 0000-0003-4388-6326
IdRef : 03273039X

Laboratoire de génie électrique de Paris

P. Bergonzo

Fonction : Auteur
PersonId : 740510
IdHAL : philippe-bergonzo
ORCID : 0000-0002-0647-9134
IdRef : 122049462

E. Snidero

Fonction : Auteur

D. Tromson

Fonction : Auteur

Olivier Schneegans : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00321705

Soumis le : lundi 15 septembre 2008-16:50:54

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Dates et versions

hal-00321705 , version 1 (15-09-2008)

Identifiants

HAL Id : hal-00321705 , version 1

Citer

Frédéric Houzé, José Alvarez, Jean-Paul Kleider, P. Bergonzo, E. Snidero, et al.. Local electrical characterization of Schottky diodes on H-terminated diamond surfaces by conducting probe atomic force microscopy. Diamond 2005, 2005, France. ⟨hal-00321705⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

SUPELEC UPMC EC-PARIS CNRS SUP_LGEP CENTRALESUPELEC UNIV-PARIS-SACLAY SORBONNE-UNIVERSITE

43 Consultations

0 Téléchargements

Partager