Probing defect states in semiconductors by the modulated photocurrent technique - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Autre Publication Scientifique Année : 2005

Probing defect states in semiconductors by the modulated photocurrent technique

Christophe Longeaud
Laboratoire de génie électrique de Paris

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00321715

Soumis le : lundi 15 septembre 2008-17:00:21

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00321715 , version 1 (15-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00321715 , version 1

Citer

Christophe Longeaud. Probing defect states in semiconductors by the modulated photocurrent technique. 2005. ⟨hal-00321715⟩

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