New approach to capacitance spectroscopy for interface characterization of a-Si:H/c-Si heterojunctions - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Non-Crystalline Solids Année : 2006

New approach to capacitance spectroscopy for interface characterization of a-Si:H/c-Si heterojunctions

Alexander Gudovskikh
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
Jean-Paul Kleider
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
R. Stangl
  • Fonction : Auteur

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00321743

Soumis le : lundi 15 septembre 2008-17:45:18

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00321743 , version 1 (15-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00321743 , version 1

Citer

Alexander Gudovskikh, Jean-Paul Kleider, R. Stangl. New approach to capacitance spectroscopy for interface characterization of a-Si:H/c-Si heterojunctions. Journal of Non-Crystalline Solids, 2006, 352, pp.1213-1216. ⟨hal-00321743⟩

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