Crystallographic and electrical characterization of tungsten carbide thin films for Schottky contact of diamond photodiode - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Vacuum Science and Technology Année : 2006

Crystallographic and electrical characterization of tungsten carbide thin films for Schottky contact of diamond photodiode

M. Liao
  • Fonction : Auteur
Y. Koide
  • Fonction : Auteur
José Alvarez
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00321748

Soumis le : lundi 15 septembre 2008-17:56:30

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

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Dates et versions

hal-00321748 , version 1 (15-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00321748 , version 1

Citer

M. Liao, Y. Koide, José Alvarez. Crystallographic and electrical characterization of tungsten carbide thin films for Schottky contact of diamond photodiode. Journal of Vacuum Science and Technology, 2006, 24, pp.185-189. ⟨hal-00321748⟩

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