Characterization of amorphous/crystalline silicon interfaces - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Characterization of amorphous/crystalline silicon interfaces

A.S. Gudovskikh
  • Fonction : Auteur
Pere Roca I Cabarrocas
M. Labrune
  • Fonction : Auteur
P.J. Ribeyron
  • Fonction : Auteur
R. Brüggemann
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00351213 , version 1 (08-01-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00351213 , version 1

Citer

Jean-Paul Kleider, Rémy Chouffot, A.S. Gudovskikh, Pere Roca I Cabarrocas, M. Labrune, et al.. Characterization of amorphous/crystalline silicon interfaces. E-MRS 2008 Spring Meeting, May 2008, Strasbourg, France. ⟨hal-00351213⟩
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