Etude par AFM à pointe conductrice du comportement mécanique et électrique de films nanométriques greffés - CentraleSupélec Access content directly
Conference Papers Year : 2008

Etude par AFM à pointe conductrice du comportement mécanique et électrique de films nanométriques greffés

David Alamarguy
Laboratoire de génie électrique de Paris
Sophie Noël
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Alessandro Benedetto
Laboratoire de génie électrique de Paris
M. Balog
  • Function : Author
P. Viel
  • Function : Author
F. Le Derf
CV
M. Sallé
Serge Palacin
Olivier Schneegans
Laboratoire de génie électrique de Paris

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https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-00351436

Submitted on : Friday, January 9, 2009-11:42:28 AM

Last modification on : Friday, March 24, 2023-2:52:51 PM

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Dates and versions

hal-00351436 , version 1 (09-01-2009)

Identifiers

  • HAL Id : hal-00351436 , version 1

Cite

David Alamarguy, Sophie Noël, Alessandro Benedetto, M. Balog, P. Viel, et al.. Etude par AFM à pointe conductrice du comportement mécanique et électrique de films nanométriques greffés. 11èmes Journées de la Matière Condensée, Aug 2008, Strasbourg, France. pp.0. ⟨hal-00351436⟩

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