Etude par AFM à pointe conductrice du comportement mécanique et électrique de films nanométriques greffés - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Etude par AFM à pointe conductrice du comportement mécanique et électrique de films nanométriques greffés

David Alamarguy
Laboratoire de génie électrique de Paris
Sophie Noël
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Alessandro Benedetto
Laboratoire de génie électrique de Paris
M. Balog
  • Fonction : Auteur
P. Viel
  • Fonction : Auteur
F. Le Derf
CV
M. Sallé
Serge Palacin
Olivier Schneegans
Laboratoire de génie électrique de Paris

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00351436

Soumis le : vendredi 9 janvier 2009-11:42:28

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00351436 , version 1 (09-01-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00351436 , version 1

Citer

David Alamarguy, Sophie Noël, Alessandro Benedetto, M. Balog, P. Viel, et al.. Etude par AFM à pointe conductrice du comportement mécanique et électrique de films nanométriques greffés. 11èmes Journées de la Matière Condensée, Aug 2008, Strasbourg, France. pp.0. ⟨hal-00351436⟩

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