Admittance Spectroscopy analysis of electronic properties in electrodeposited CISEL absorbers and influence of thermal treatment - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Admittance Spectroscopy analysis of electronic properties in electrodeposited CISEL absorbers and influence of thermal treatment

C.M. Ruiz
E. Saucedo
  • Fonction : Auteur
V. Bermudez
  • Fonction : Auteur
Arouna Darga
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Denis Mencaraglia
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00354222

Soumis le : lundi 19 janvier 2009-12:06:36

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00354222 , version 1 (19-01-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00354222 , version 1

Citer

C.M. Ruiz, E. Saucedo, V. Bermudez, Arouna Darga, Denis Mencaraglia. Admittance Spectroscopy analysis of electronic properties in electrodeposited CISEL absorbers and influence of thermal treatment. 23rd European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, Sep 2008, Valencia, Spain. ⟨hal-00354222⟩

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