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Communication Dans Un Congrès Année : 2009

An original apparatus for endurance testing of MEMS electrical contact materials

M. Vincent
  • Fonction : Auteur
L. Chiesi
  • Fonction : Auteur
P. Rousset
  • Fonction : Auteur
C. Lapierre
  • Fonction : Auteur
C. Poulain
  • Fonction : Auteur
L. Carbone
  • Fonction : Auteur
Frédéric Houzé
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
J. Delamarre
  • Fonction : Auteur

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00445399

Soumis le : vendredi 8 janvier 2010-12:45:43

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00445399 , version 1 (08-01-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00445399 , version 1

Citer

M. Vincent, L. Chiesi, P. Rousset, C. Lapierre, C. Poulain, et al.. An original apparatus for endurance testing of MEMS electrical contact materials. 55th Holm Conference on Electrical Contacts, Sep 2009, Vancouver, Canada. pp. 285-289. ⟨hal-00445399⟩

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