Study of the Degrees of Freedom Management of Dual Formulations for the Modelling of Thin Cracks in Eddy Current Testing - CentraleSupélec

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Article Dans Une Revue Sensor letters Année : 2009

Study of the Degrees of Freedom Management of Dual Formulations for the Modelling of Thin Cracks in Eddy Current Testing

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Yahya Choua

Fonction : Auteur

Laboratoire de génie électrique de Paris

Laurent Santandréa

Fonction : Auteur
PersonId : 9353
IdHAL : laurent-santandrea
ORCID : 0009-0009-5071-5833
IdRef : 253136555

Laboratoire de génie électrique de Paris

Yann Le Bihan

Fonction : Auteur
PersonId : 6436
IdHAL : yann-le-bihan
ORCID : 0000-0001-5563-9192
IdRef : 095667075

Laboratoire de génie électrique de Paris

Claude Marchand

Fonction : Auteur
PersonId : 4650
IdHAL : claude-marchand
IdRef : 076292274

Laboratoire de génie électrique de Paris

Olivier Schneegans : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00447220

Soumis le : jeudi 14 janvier 2010-15:39:40

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52

Dates et versions

hal-00447220 , version 1 (14-01-2010)

Identifiants

HAL Id : hal-00447220 , version 1

Citer

Yahya Choua, Laurent Santandréa, Yann Le Bihan, Claude Marchand. Study of the Degrees of Freedom Management of Dual Formulations for the Modelling of Thin Cracks in Eddy Current Testing. Sensor letters, 2009, 7 (5), pp. 475-479. ⟨hal-00447220⟩

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