Mesh Refinement in Eddy Current Testing with Separated T-R probes - CentraleSupélec

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Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Mesh Refinement in Eddy Current Testing with Separated T-R probes

(1) , (1) , (1) , (1)

1

Yahya Choua

Fonction : Auteur

Laboratoire de génie électrique de Paris

Laurent Santandréa

Fonction : Auteur
PersonId : 9353
IdHAL : laurent-santandrea
ORCID : 0009-0009-5071-5833
IdRef : 253136555

Laboratoire de génie électrique de Paris

Yann Le Bihan

Fonction : Auteur
PersonId : 6436
IdHAL : yann-le-bihan
ORCID : 0000-0001-5563-9192
IdRef : 095667075

Laboratoire de génie électrique de Paris

Claude Marchand

Fonction : Auteur
PersonId : 4650
IdHAL : claude-marchand
IdRef : 076292274

Laboratoire de génie électrique de Paris

Olivier Schneegans : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00447250

Soumis le : jeudi 14 janvier 2010-15:46:39

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:52

Dates et versions

hal-00447250 , version 1 (14-01-2010)

Identifiants

HAL Id : hal-00447250 , version 1

Citer

Yahya Choua, Laurent Santandréa, Yann Le Bihan, Claude Marchand. Mesh Refinement in Eddy Current Testing with Separated T-R probes. COMPUMAG, Nov 2009, Florianópolis, Brazil. pp. 1048-1049. ⟨hal-00447250⟩

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