Temperature Measurement of Copper Contact Surfaces - CentraleSupélec

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Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Temperature Measurement of Copper Contact Surfaces

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Romaric Landfried

Fonction : Auteur
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IdHAL : romaric-landfried
ORCID : 0000-0002-1704-2472
IdRef : 161832059

Laboratoire de génie électrique de Paris

Thierry Leblanc

Fonction : Auteur
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Laboratoire de génie électrique de Paris

Richard Andlauer

Fonction : Auteur

Laboratoire de génie électrique de Paris

T. Klonowski

Fonction : Auteur

Philippe Testé

Fonction : Auteur
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Laboratoire de génie électrique de Paris

Olivier Schneegans : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00554772

Soumis le : mardi 11 janvier 2011-13:06:31

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

Dates et versions

hal-00554772 , version 1 (11-01-2011)

Identifiants

HAL Id : hal-00554772 , version 1

Citer

Romaric Landfried, Thierry Leblanc, Richard Andlauer, T. Klonowski, Philippe Testé. Temperature Measurement of Copper Contact Surfaces. 25th ICEC and 56th Holm Conference on Electrical Contacts, Oct 2010, Charleston, United States. pp.148-152. ⟨hal-00554772⟩

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