Conductive-atomic force microscopy characterization of silicon nanowires - Archive ouverte HAL

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Conference Papers Year : 2010

Conductive-atomic force microscopy characterization of silicon nanowires

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1

José Alvarez

Function : Author
PersonId : 5252
IdHAL : jose-alvarez
ORCID : 0000-0003-3558-8302
IdRef : 089018222

Laboratoire de génie électrique de Paris

Irène Ngo

Function : Author

Laboratoire de génie électrique de Paris

Marie-Estelle Gueunier-Farret

Function : Author
PersonId : 14061
IdHAL : marie-gueunier-farret
ORCID : 0000-0003-1615-498X
IdRef : 166935093

Jean-Paul Kleider

Function : Author
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IdHAL : jean-paul-kleider
ORCID : 0000-0003-4388-6326
IdRef : 03273039X

Laboratoire de génie électrique de Paris

Lianbo Yu

Function : Author

Pere Roca I Cabarrocas

Function : Author
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ORCID : 0000-0003-2241-2762
IdRef : 034125663

Simon Perraud

Function : Author

E. Rouvière

Function : Author

Olivier Schneegans : Connect in order to contact the contributor

https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-00555251

Submitted on : Wednesday, January 12, 2011-5:23:05 PM

Last modification on : Tuesday, February 14, 2023-3:35:33 AM

Dates and versions

hal-00555251 , version 1 (12-01-2011)

Identifiers

HAL Id : hal-00555251 , version 1

Cite

José Alvarez, Irène Ngo, Marie-Estelle Gueunier-Farret, Jean-Paul Kleider, Lianbo Yu, et al.. Conductive-atomic force microscopy characterization of silicon nanowires. E-MRS 2010 Fall Meeting, Sep 2010, Varsovie, Poland. ⟨hal-00555251⟩

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