Capacitance techniques for the evaluation of electronic properties and defects in disordered thin film semiconductors - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Capacitance techniques for the evaluation of electronic properties and defects in disordered thin film semiconductors

Jean-Paul Kleider
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00555256

Soumis le : mercredi 12 janvier 2011-17:23:28

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00555256 , version 1 (12-01-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00555256 , version 1

Citer

Jean-Paul Kleider. Capacitance techniques for the evaluation of electronic properties and defects in disordered thin film semiconductors. 7th International Conference on amorphous and microcrystalline semiconductors, Jun 2010, Saint-Petersburg, Russia. pp.00. ⟨hal-00555256⟩

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