Apport du microscope à force atomique pour l\'étude de certains phénomènes relatifs aux micro-contacts électriques

M Vincent; S. W. Row; C Poulain; L Chiesi; Frédéric Houzé; J Delamarre

Conference Papers Year : 2011

Apport du microscope à force atomique pour l\'étude de certains phénomènes relatifs aux micro-contacts électriques

, , , , (1) ,

1

M Vincent

Function : Author

S. W. Row

Function : Author

C Poulain

Function : Author

L Chiesi

Function : Author

Frédéric Houzé

Function : Author
PersonId : 13067
IdHAL : frederic-houze
ORCID : 0000-0001-8054-3184
IdRef : 15620584X

Laboratoire de génie électrique de Paris

CV

J Delamarre

Function : Author

Olivier Schneegans : Connect in order to contact the contributor

https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-00710617

Submitted on : Thursday, June 21, 2012-11:28:12 AM

Last modification on : Tuesday, February 14, 2023-3:36:07 AM

Dates and versions

hal-00710617 , version 1 (21-06-2012)

Identifiers

HAL Id : hal-00710617 , version 1

Cite

M Vincent, S. W. Row, C Poulain, L Chiesi, Frédéric Houzé, et al.. Apport du microscope à force atomique pour l\'étude de certains phénomènes relatifs aux micro-contacts électriques. Forum des Microscopies à Sonde Locale 2011, Mar 2011, Ecully, France. pp.88. ⟨hal-00710617⟩

Export

BibTeX TEI Dublin Core DC Terms EndNote Datacite

Collections

SUPELEC UPMC EC-PARIS CNRS SUP_LGEP CENTRALESUPELEC UNIV-PARIS-SACLAY SORBONNE-UNIVERSITE

29 View

0 Download

Apport du microscope à force atomique pour l\'étude de certains phénomènes relatifs aux micro-contacts électriques

Dates and versions

Identifiers

Cite

Export

Collections

Share