Apport du microscope à force atomique pour l\'étude de certains phénomènes relatifs aux micro-contacts électriques - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Apport du microscope à force atomique pour l\'étude de certains phénomènes relatifs aux micro-contacts électriques

M Vincent
  • Fonction : Auteur
S. W. Row
  • Fonction : Auteur
C Poulain
  • Fonction : Auteur
L Chiesi
  • Fonction : Auteur
Frédéric Houzé
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
J Delamarre
  • Fonction : Auteur

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00710617

Soumis le : jeudi 21 juin 2012-11:28:12

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:55

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00710617 , version 1 (21-06-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00710617 , version 1

Citer

M Vincent, S. W. Row, C Poulain, L Chiesi, Frédéric Houzé, et al.. Apport du microscope à force atomique pour l\'étude de certains phénomènes relatifs aux micro-contacts électriques. Forum des Microscopies à Sonde Locale 2011, Mar 2011, Ecully, France. pp.88. ⟨hal-00710617⟩

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