Radiofrequency dielectric properties of amorphous semiconducting Y-Ba-Cu-O oxide thin films for bolometric detection - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Radiofrequency dielectric properties of amorphous semiconducting Y-Ba-Cu-O oxide thin films for bolometric detection

Aurélie Gensbittel
Laboratoire de génie électrique de Paris
Olivier Dubrunfaut
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV
Vishal Jagtap
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de génie électrique de Paris
Alain Kreisler
Laboratoire de génie électrique de Paris
Annick Dégardin
Laboratoire de génie électrique de Paris

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https://centralesupelec.hal.science/hal-00710700

Soumis le : jeudi 21 juin 2012-15:14:16

Dernière modification le : vendredi 20 octobre 2023-16:51:42

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00710700 , version 1 (21-06-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00710700 , version 1

Citer

Aurélie Gensbittel, Olivier Dubrunfaut, Vishal Jagtap, Alain Kreisler, Annick Dégardin. Radiofrequency dielectric properties of amorphous semiconducting Y-Ba-Cu-O oxide thin films for bolometric detection. E-MRS Spring Meeting, May 2011, Nice, France. ⟨hal-00710700⟩

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