Conductive-atomic force microscopy and Raman spectroscopy characterization of silicon nanowires - Archive ouverte HAL

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Conference Papers Year :

Conductive-atomic force microscopy and Raman spectroscopy characterization of silicon nanowires

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Morgane Fruzzetti

Function : Author

Laboratoire de génie électrique de Paris

José Alvarez

Function : Author
PersonId : 5252
IdHAL : jose-alvarez
ORCID : 0000-0003-3558-8302
IdRef : 089018222

Laboratoire de génie électrique de Paris

Irène Ngo

Function : Author

Laboratoire de génie électrique de Paris

Marie-Estelle Gueunier-Farret

Function : Author
PersonId : 14061
IdHAL : marie-gueunier-farret
ORCID : 0000-0003-1615-498X
IdRef : 166935093

Laboratoire de génie électrique de Paris

Jean-Paul Kleider

Function : Author
PersonId : 5984
IdHAL : jean-paul-kleider
ORCID : 0000-0003-4388-6326
IdRef : 03273039X

Laboratoire de génie électrique de Paris

Lianbo Yu

Function : Author

Pere Roca I Cabarrocas

Function : Author
PersonId : 760063
ORCID : 0000-0003-2241-2762
IdRef : 034125663

Christine Morin

Function : Author

Laboratoire d'Innovation pour les Technologies des Energies Nouvelles et les nanomatériaux

Simon Perraud

Function : Author

Domains

Computer Science [cs]

Olivier Schneegans : Connect in order to contact the contributor

https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-00710790

Submitted on : Thursday, June 21, 2012-3:54:26 PM

Last modification on : Tuesday, February 14, 2023-3:35:29 AM

Dates and versions

hal-00710790 , version 1 (21-06-2012)

Identifiers

HAL Id : hal-00710790 , version 1

Cite

Morgane Fruzzetti, José Alvarez, Irène Ngo, Marie-Estelle Gueunier-Farret, Jean-Paul Kleider, et al.. Conductive-atomic force microscopy and Raman spectroscopy characterization of silicon nanowires. Journées Nationales PhotoVoltaïques 2011, Dec 2011, Dourdan, France. ⟨hal-00710790⟩

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