Conductive-atomic force microscopy and Raman spectroscopy characterization of silicon nanowires - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Conductive-atomic force microscopy and Raman spectroscopy characterization of silicon nanowires

Domaines

Informatique [cs]

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00710790

Soumis le : jeudi 21 juin 2012-15:54:26

Dernière modification le : vendredi 19 avril 2024-10:50:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00710790 , version 1 (21-06-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00710790 , version 1

Citer

Morgane Fruzzetti, José Alvarez, Irène Ngo, Marie-Estelle Gueunier-Farret, Jean-Paul Kleider, et al.. Conductive-atomic force microscopy and Raman spectroscopy characterization of silicon nanowires. Journées Nationales PhotoVoltaïques 2011, Dec 2011, Dourdan, France. ⟨hal-00710790⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CEA SUPELEC UNIV-SAVOIE UPMC EC-PARIS UGA CNRS SUP_LGEP CENTRALESUPELEC DRT UNIV-PARIS-SACLAY LITEN SORBONNE-UNIVERSITE CEA-GRE INES
224 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More