Crystal quality characterization of MO-VPE InxGa1-xN thin films using disorder parameters

Vanessa Gorge (1) , Anne Migan-Dubois (1) , Christelle Pareige (1) , Zakaria Djebbour (1) , K. Pantzas , T. Moudakir (2) , Simon Gautier (3) , Gaëlle Orsal (3) , A. Ougazzaden (2)

1 LGEP - Laboratoire de génie électrique de Paris
2 Georgia Tech Lorraine [Metz]
3 LMOPS - Laboratoire Matériaux Optiques, Photonique et Systèmes

Vanessa Gorge, Anne Migan-Dubois, Christelle Pareige, Zakaria Djebbour, K. Pantzas, et al.. Crystal quality characterization of MO-VPE InxGa1-xN thin films using disorder parameters. E-MRS Spring Meeting 2011, May 2011, Nice, France. ⟨hal-00710795⟩