Thermal ageing induces drastic changes on mechanical and damage behavior of Sn3.0Ag0.5Cu alloy - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2010

Dates et versions

hal-00761246 , version 1 (05-12-2012)

Identifiants

Citer

Benoît Dompierre, Wilson Carlos Maia Filho, Michel Brizoux, Véronique Aubin, Eric Charkaluk. Thermal ageing induces drastic changes on mechanical and damage behavior of Sn3.0Ag0.5Cu alloy. Microelectronics Reliability, 2010, 50 (9-11), pp.1661-1665. ⟨10.1016/j.microrel.2010.07.125⟩. ⟨hal-00761246⟩
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