Estimation théorique de la sévérité d'un défaut par un modèle analytique de la DKL

Jinane Harmouche; Claude Delpha; Demba Diallo

Conference Papers Year : 2013

Estimation théorique de la sévérité d'un défaut par un modèle analytique de la DKL

(1) , (1) , (2)

1
2

Jinane Harmouche

Function : Author

Laboratoire des signaux et systèmes

Claude Delpha

Function : Author
PersonId : 183254
IdHAL : claude-delpha
ORCID : 0000-0003-3224-8628
IdRef : 151348480

Laboratoire des signaux et systèmes

CV

Demba Diallo

Function : Author
PersonId : 7145
IdHAL : demba-diallo
IdRef : 070737347

Laboratoire de génie électrique de Paris

CV

Domains

Engineering Sciences [physics] Signal and Image processing Computer Science [cs] Signal and Image Processing

Claude Delpha : Connect in order to contact the contributor

https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-00823761

Submitted on : Friday, May 17, 2013-10:39:20 PM

Last modification on : Thursday, March 9, 2023-10:30:16 AM

Dates and versions

hal-00823761 , version 1 (17-05-2013)

Identifiers

HAL Id : hal-00823761 , version 1

Cite

Jinane Harmouche, Claude Delpha, Demba Diallo. Estimation théorique de la sévérité d'un défaut par un modèle analytique de la DKL. GRETSI 2013, Sep 2013, Brest, France. ⟨hal-00823761⟩

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