Estimation théorique de la sévérité d'un défaut par un modèle analytique de la DKL - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Estimation théorique de la sévérité d'un défaut par un modèle analytique de la DKL

Jinane Harmouche
  • Fonction : Auteur
Laboratoire des signaux et systèmes
Claude Delpha
Laboratoire des signaux et systèmes
CV
Demba Diallo
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

Domaines

Traitement du signal et de l'image [eess.SP] Traitement du signal et de l'image [eess.SP]

Claude Delpha  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00823761

Soumis le : vendredi 17 mai 2013-22:39:20

Dernière modification le : dimanche 17 mars 2024-11:46:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00823761 , version 1 (17-05-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00823761 , version 1

Citer

Jinane Harmouche, Claude Delpha, Demba Diallo. Estimation théorique de la sévérité d'un défaut par un modèle analytique de la DKL. GRETSI 2013, Sep 2013, Brest, France. ⟨hal-00823761⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

SUPELEC UPMC EC-PARIS CNRS SUP_LSS SUP_LGEP SUP_SIGNAUX GEEPS ECO2 UNIV-PARIS-SACLAY SORBONNE-UNIVERSITE SU-SCIENCES
92 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More