Caractérisation des défauts électriquement actifs de semiconducteurs en couches minces par la technique du photocourant modulé - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Caractérisation des défauts électriquement actifs de semiconducteurs en couches minces par la technique du photocourant modulé

Thierry Leblanc  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00931321

Soumis le : mercredi 15 janvier 2014-11:29:53

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:58

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00931321 , version 1 (15-01-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00931321 , version 1

Citer

Marie-Estelle Gueunier-Farret, Jean-Paul Kleider, Christophe Longeaud, Sofia Gaiaschi. Caractérisation des défauts électriquement actifs de semiconducteurs en couches minces par la technique du photocourant modulé. JNPV 2013, Dec 2013, Dourdan, France. ⟨hal-00931321⟩

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