Caractérisation du travail de sortie de l'ITO: apports de la microélectronique - Archive ouverte HAL Access content directly
Conference Papers Year : 2014

Caractérisation du travail de sortie de l'ITO: apports de la microélectronique

Raphaël Lachaume
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

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Physics [physics]

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https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-01104247

Submitted on : Friday, January 16, 2015-2:04:11 PM

Last modification on : Friday, March 24, 2023-2:53:00 PM

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Dates and versions

hal-01104247 , version 1 (16-01-2015)

Identifiers

  • HAL Id : hal-01104247 , version 1

Cite

Raphaël Lachaume. Caractérisation du travail de sortie de l'ITO: apports de la microélectronique. JNPV 2014, Dec 2014, Dourdan, France. ⟨hal-01104247⟩

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