Caractérisation du travail de sortie de l'ITO: apports de la microélectronique - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Caractérisation du travail de sortie de l'ITO: apports de la microélectronique

Raphaël Lachaume
Laboratoire de génie électrique de Paris
CV

Domaines

Physique [physics]

Thierry Leblanc  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-01104247

Soumis le : vendredi 16 janvier 2015-14:04:11

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:00

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01104247 , version 1 (16-01-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01104247 , version 1

Citer

Raphaël Lachaume. Caractérisation du travail de sortie de l'ITO: apports de la microélectronique. JNPV 2014, Dec 2014, Dourdan, France. ⟨hal-01104247⟩

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