Low noise and fast response of IR sensing structures based on amorphous Y-Ba-Cu-O semiconducting thin films sputtered on silicon

Alain J. Kreisler; Xavier Galiano; Vishal S. Jagtap; David Alamarguy; Annick F. Dégardin

Low noise and fast response of IR sensing structures based on amorphous Y-Ba-Cu-O semiconducting thin films sputtered on silicon

Alain J. Kreisler ¹ Xavier Galiano ¹ Vishal S. Jagtap ¹ David Alamarguy ¹ Annick F. Dégardin ¹

1 GeePs - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris

Type de document :

Communication dans un congrès

Conference of the European Materials Science Society (E-MRS 2015), May 2015, Lille, France

Domaine :

Sciences de l'ingénieur [physics] / Optique / photonique

Physique [physics] / Matière Condensée [cond-mat] / Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Sciences de l'ingénieur [physics] / Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Sciences de l'ingénieur [physics] / Matériaux

Sciences de l'ingénieur [physics] / Electronique

Liste complète des métadonnées

https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-01242240
Contributeur : Alain Kreisler <>
Soumis le : vendredi 11 décembre 2015 - 16:18:11
Dernière modification le : jeudi 5 avril 2018 - 12:30:24

Low noise and fast response of IR sensing structures based on amorphous Y-Ba-Cu-O semiconducting thin films sputtered on silicon

Identifiants

Collections

Citation

Exporter

Métriques

118

Contact

Low noise and fast response of IR sensing structures based on amorphous Y-Ba-Cu-O semiconducting thin films sputtered on silicon

Identifiants

Collections

Citation

Exporter

Partager

Métriques

118

Contact