Density of states measurements of RF-power, SiF4 and CH4 –tuned-hydrogenated microcrystalline silicon carbon alloy thin films using Fourier transform photocurrent spectroscopy (FTPS)

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Journées Nationales du Photovoltaïque 2015, Dec 2015, Dourdan, France
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Contributeur : Christophe Longeaud <>
Soumis le : jeudi 17 décembre 2015 - 15:43:23
Dernière modification le : jeudi 5 avril 2018 - 12:30:24

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  • HAL Id : hal-01245742, version 1

Citation

N. Puspitosari, S. Gaiaschi, C. Longeaud, M.E. Gueunier, E. V. Johnson. Density of states measurements of RF-power, SiF4 and CH4 –tuned-hydrogenated microcrystalline silicon carbon alloy thin films using Fourier transform photocurrent spectroscopy (FTPS). Journées Nationales du Photovoltaïque 2015, Dec 2015, Dourdan, France. 〈hal-01245742〉

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