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Poster De Conférence Année : 2015

Density of states measurements of RF-power, SiF4 and CH4 –tuned-hydrogenated microcrystalline silicon carbon alloy thin films using Fourier transform photocurrent spectroscopy (FTPS)

N. Puspitosari
  • Fonction : Auteur
Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris
S. Gaiaschi
  • Fonction : Auteur
Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris
C. Longeaud
Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris
M.E. Gueunier
CV
E. V. Johnson
CV

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

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https://centralesupelec.hal.science/hal-01245742

Soumis le : jeudi 17 décembre 2015-15:43:23

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:01

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01245742 , version 1 (17-12-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01245742 , version 1

Citer

N. Puspitosari, S. Gaiaschi, C. Longeaud, M.E. Gueunier, E. V. Johnson. Density of states measurements of RF-power, SiF4 and CH4 –tuned-hydrogenated microcrystalline silicon carbon alloy thin films using Fourier transform photocurrent spectroscopy (FTPS). Journées Nationales du Photovoltaïque 2015, Dec 2015, Dourdan, France. ⟨hal-01245742⟩

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