Ab initio Calculation and Measurements of V2O5 Film Thermoelectric Properties

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Journal of Electronic Materials, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2013, 42 (7), pp.1597-1603. 〈10.1007%2Fs11664-012-2329-6〉
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Contributeur : Sebastian Volz <>
Soumis le : mercredi 9 mars 2016 - 18:56:42
Dernière modification le : mardi 16 janvier 2018 - 15:47:04

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Yurii Chumakov, Javier Santos, Isabel Ferreira, K. Termentzidis, Alex Pokropivny, et al.. Ab initio Calculation and Measurements of V2O5 Film Thermoelectric Properties. Journal of Electronic Materials, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2013, 42 (7), pp.1597-1603. 〈10.1007%2Fs11664-012-2329-6〉. 〈hal-01285864〉

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