Fast Fourier transform scanning spreading resistance microscopy: a novel technique to overcome the limitations of classical conductive AFM techniques

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Nanotechnology, Institute of Physics, 2015, 26 (35), pp.355702. 〈10.1088/0957-4484/26/35/355702〉
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Contributeur : Thierry Leblanc <>
Soumis le : mardi 3 mai 2016 - 11:10:54
Dernière modification le : jeudi 5 avril 2018 - 12:30:24

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P Eyben, P Bisiaux, A Schulze, A Nazir, W Vandervorst. Fast Fourier transform scanning spreading resistance microscopy: a novel technique to overcome the limitations of classical conductive AFM techniques. Nanotechnology, Institute of Physics, 2015, 26 (35), pp.355702. 〈10.1088/0957-4484/26/35/355702〉. 〈hal-01310822〉

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