Article Dans Une Revue
Nanotechnology
Année : 2015
Thierry Leblanc : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://centralesupelec.hal.science/hal-01310822
Soumis le : mardi 3 mai 2016-11:10:54
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:02
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01310822 , version 1
- DOI : 10.1088/0957-4484/26/35/355702
Citer
P Eyben, P Bisiaux, A Schulze, A Nazir, W Vandervorst. Fast Fourier transform scanning spreading resistance microscopy: a novel technique to overcome the limitations of classical conductive AFM techniques. Nanotechnology, 2015, 26 (35), pp.355702. ⟨10.1088/0957-4484/26/35/355702⟩. ⟨hal-01310822⟩
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