Conference Papers
Year :
Frédéric Houzé : Connect in order to contact the contributor
https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-01317747
Submitted on : Wednesday, May 18, 2016-6:40:01 PM
Last modification on : Thursday, March 9, 2023-10:30:17 AM
Dates and versions
Identifiers
- HAL Id : hal-01317747 , version 1
Cite
Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, Pierre Seneor, et al.. Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. ⟨hal-01317747⟩
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