Electrical and structural mapping of friction induced defects in graphene layers

Type de document :
Communication dans un congrès
62nd IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Oct 2016, Clearwater Beach, United States. pp.72-79, Proceedings of the 62nd IEEE Holm Conference on Electrical Contacts
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Contributeur : Frédéric Houzé <>
Soumis le : jeudi 16 juin 2016 - 11:20:20
Dernière modification le : mardi 6 février 2018 - 16:54:02

Identifiants

  • HAL Id : hal-01332589, version 1

Citation

Pascal Chrétien, Sophie Noël, Alexandre Jaffré, Frédéric Houzé, David Brunel, et al.. Electrical and structural mapping of friction induced defects in graphene layers. 62nd IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Oct 2016, Clearwater Beach, United States. pp.72-79, Proceedings of the 62nd IEEE Holm Conference on Electrical Contacts. 〈hal-01332589〉

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