Techniques de mesure de grandeurs électriques adaptées aux nano-circuits

Brice Gautier 1 Pascal Chrétien 2 Khalifa Aguir 3 Frédéric Houzé 2 Olivier Schneegans 2 Johannes Hoffmann 4 Chevalier Nicolas 5 Łukasz Borowik 5 Dominique Deresmes 6 P Gournay 7 P. Maillot 8 François Piquemal 7
1 INL - Institut des Nanotechnologies de Lyon
2 GeePs - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris
3 IM2NP - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
4 METAS - Institut Fédéral de Métrologie
5 CEA-LETI - Laboratoire d'Electronique et des Technologies de l'Information
6 IEMN - Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
7 LNE- INM - Laboratoire National de Métrologie et d'Essais - Institut National de Métrologie
8 STMicroelectronics
Type de document :
Article dans une revue
Les Techniques de l'Ingenieur, Editions T.I., 2016, Mesures-Analyses / Mesures et tests électroniques pp.R1084 V1
Liste complète des métadonnées
https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-01432552
Contributeur : Frédéric Houzé <>
Soumis le : mercredi 11 janvier 2017 - 17:46:36
Dernière modification le : mercredi 25 avril 2018 - 14:27:52

Identifiants

  • HAL Id : hal-01432552, version 1

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Citation

Brice Gautier, Pascal Chrétien, Khalifa Aguir, Frédéric Houzé, Olivier Schneegans, et al.. Techniques de mesure de grandeurs électriques adaptées aux nano-circuits. Les Techniques de l'Ingenieur, Editions T.I., 2016, Mesures-Analyses / Mesures et tests électroniques pp.R1084 V1. 〈hal-01432552〉

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