Statistical Analysis of Current-based Features for Dip Voltage Fault Detection and Isolation

Type de document :
Communication dans un congrès
IEEE. 43rd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society (IECON 2017), Oct 2017, Beijing, China. IECON 2017
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Contributeur : Claude Delpha <>
Soumis le : mardi 29 août 2017 - 11:49:12
Dernière modification le : jeudi 26 avril 2018 - 17:06:42

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  • HAL Id : hal-01578478, version 1

Citation

Adouni Amel, Dhia Chariag, Claude Delpha, Demba Diallo, Lassaad Sbita. Statistical Analysis of Current-based Features for Dip Voltage Fault Detection and Isolation. IEEE. 43rd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society (IECON 2017), Oct 2017, Beijing, China. IECON 2017. 〈hal-01578478〉

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