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Poster communications
Mesure de la permittivité du a-Si:H entre 0.5 et 3 THz
N. Zerounian 1
Author
A. S. Grimault-Jacquin
Author
Frédéric Aniel 1
Author
Jean-Paul Kleider 2
Author IdHAL : jean-paul-kleider ORCID : https://orcid.org/0000-0003-4388-6326
P.Roca I Cabarrocas 3
Author
1
IEF - Institut d'électronique fondamentale (bat. 220 Av Georges Clémenceau 91405 ORSAY CEDEX - France)
- UP11 - Université Paris-Sud - Paris 11 (Bâtiment 300 - 91405 Orsay cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8622 (France)
2
GeePs - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (11, rue Joliot Curie
Plateau de Moulon
91192 Gif sur Yvette - France)
- UP11 - Université Paris-Sud - Paris 11 (Bâtiment 300 - 91405 Orsay cedex - France)
- UPMC - Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (4 place Jussieu - 75005 Paris - France)
- CentraleSupélec (3, rue Joliot Curie, Plateau de Moulon, 91192 GIF-SUR-YVETTE Cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8507 (France)
3
LPICM - Laboratoire de physique des interfaces et des couches minces [Palaiseau] (bat. 408 Route de Saclay 91128 PALAISEAU CEDEX - France)
- X - École polytechnique (École polytechnique, 91128 Palaiseau Cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR7647 (France)
Document type :
Poster communications
Domain :
Complete list of metadata
https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-01632961
Contributor : Jean-Paul Kleider <>
Submitted on : Friday, November 10, 2017 - 6:07:14 PM
Last modification on : Tuesday, July 20, 2021 - 3:05:12 AM
Contributor : Jean-Paul Kleider <>
Submitted on : Friday, November 10, 2017 - 6:07:14 PM
Last modification on : Tuesday, July 20, 2021 - 3:05:12 AM
Identifiers
- HAL Id : hal-01632961, version 1
Collections
CENTRALESUPELEC | CNRS | X | LPICM | UPMC | GEEPS | X-PICM | PHEMADIC | X-DEP-PHYS | SORBONNE-UNIVERSITE | SU-SCIENCES | GS-ENGINEERING
Citation
N. Zerounian, A. S. Grimault-Jacquin, Frédéric Aniel, Jean-Paul Kleider, P.Roca I Cabarrocas. Mesure de la permittivité du a-Si:H entre 0.5 et 3 THz. XXèmes Journées Microondes, May 2017, Saint-Malo, France. ⟨hal-01632961⟩
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