Mesure de la permittivité du a-Si:H entre 0.5 et 3 THz

N. Zerounian; A. S. Grimault-Jacquin; Frédéric Aniel; Jean-Paul Kleider; P.Roca I Cabarrocas

Mesure de la permittivité du a-Si:H entre 0.5 et 3 THz

N. Zerounian ¹ A. S. Grimault-Jacquin Frédéric Aniel ¹ Jean-Paul Kleider ² P.Roca I Cabarrocas ³

1 IEF - Institut d'électronique fondamentale

2 GeePs - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris

3 LPICM - Laboratoire de physique des interfaces et des couches minces [Palaiseau]

Type de document :

Poster

XXèmes Journées Microondes, May 2017, Saint-Malo, France

Domaine :

Physique [physics] / Matière Condensée [cond-mat] / Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Sciences de l'ingénieur [physics] / Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Sciences de l'ingénieur [physics] / Energie électrique

Sciences de l'ingénieur [physics] / Optique / photonique

Sciences de l'ingénieur [physics] / Matériaux

Liste complète des métadonnées

https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-01632961
Contributeur : Jean-Paul Kleider <>
Soumis le : vendredi 10 novembre 2017 - 18:07:14
Dernière modification le : jeudi 12 avril 2018 - 01:50:56

Mesure de la permittivité du a-Si:H entre 0.5 et 3 THz

Identifiants

Collections

Citation

Exporter

Métriques

139

Contact

Mesure de la permittivité du a-Si:H entre 0.5 et 3 THz

Identifiants

Collections

Citation

Exporter

Partager

Métriques

139

Contact