Mesure de la permittivité du a-Si:H entre 0.5 et 3 THz

N. Zerounian; A. S. Grimault-Jacquin; Frédéric Aniel; Jean-Paul Kleider; P.Roca I Cabarrocas

Poster communications

Mesure de la permittivité du a-Si:H entre 0.5 et 3 THz

N. Zerounian ¹ A. S. Grimault-Jacquin Frédéric Aniel ¹ Jean-Paul Kleider ² P.Roca I Cabarrocas ³

1 IEF - Institut d'électronique fondamentale

2 GeePs - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris

3 LPICM - Laboratoire de physique des interfaces et des couches minces [Palaiseau]

Document type :

Poster communications

Domain :

Physics [physics] / Condensed Matter [cond-mat] / Materials Science [cond-mat.mtrl-sci]

Engineering Sciences [physics] / Micro and nanotechnologies/Microelectronics

Engineering Sciences [physics] / Electric power

Engineering Sciences [physics] / Optics / Photonic

Engineering Sciences [physics] / Materials

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https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-01632961
Contributor : Jean-Paul Kleider <>
Submitted on : Friday, November 10, 2017 - 6:07:14 PM
Last modification on : Wednesday, September 16, 2020 - 5:50:59 PM

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