Numerical analysis of kelvin probe force microscopy

J.P. Connolly (1, 2) , J Alvarez (2) , Marie-Estelle Gueunier-Farret (2) , Jean-Paul Kleider (2) , Clément Marchat (1, 2) , Denis Mencaraglia (2) , Yong Huang (3) , Alain Rolland (3)

1 IPVF - Institut Photovoltaïque d’Ile-de-France (ITE)
2 GeePs - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris
3 FOTON - Institut des Fonctions Optiques pour les Technologies de l'informatiON

Domaines: Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]; Micro et nanotechnologies/Microélectronique; Energie électrique; Optique / photonique; Matériaux

J.P. Connolly, J Alvarez, Marie-Estelle Gueunier-Farret, Jean-Paul Kleider, Clément Marchat, et al.. Numerical analysis of kelvin probe force microscopy. 7è Journées Nationales du PhotoVoltaïque (JNPV 2017), Dec 2017, Dourdan, France. ⟨hal-01633187⟩