Numerical analysis of kelvin probe force microscopy

J.P. Connolly; J Alvarez; Marie-Estelle Gueunier-Farret; Jean-Paul Kleider; Clément Marchat; Denis Mencaraglia; Yong Huang; Alain Rolland

Numerical analysis of kelvin probe force microscopy

J.P. Connolly ^{1, 2} J Alvarez ² Marie-Estelle Gueunier-Farret ² Jean-Paul Kleider ² Clément Marchat ^{1, 2} Denis Mencaraglia ² Yong Huang ³ Alain Rolland ³

1 IPVF - Institut Photovoltaïque d’Ile-de-France

2 GeePs - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris

3 Institut FOTON - Institut des Fonctions Optiques pour les Technologies de l'informatiON

Type de document :

Poster

7è Journées Nationales du PhotoVoltaïque (JNPV 2017), Dec 2017, Dourdan, France

Domaine :

Physique [physics] / Matière Condensée [cond-mat] / Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Sciences de l'ingénieur [physics] / Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Sciences de l'ingénieur [physics] / Energie électrique

Sciences de l'ingénieur [physics] / Optique / photonique

Sciences de l'ingénieur [physics] / Matériaux

Liste complète des métadonnées

https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-01633187
Contributeur : Jean-Paul Kleider <>
Soumis le : samedi 11 novembre 2017 - 17:47:07
Dernière modification le : mercredi 19 décembre 2018 - 15:26:08

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