Amorphous YBaCuO semiconducting thin films for radiation thermal detectors: migrating from IR to THz sensor optimal structure

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Contributeur : Alain Kreisler <>
Soumis le : lundi 13 novembre 2017 - 15:31:00
Dernière modification le : jeudi 5 avril 2018 - 12:30:24

Identifiants

  • HAL Id : hal-01633937, version 1

Citation

Xavier Galiano, Manjakavahoaka Razanoelina, David Alamarguy, Annick F. Dégardin, Masayoshi Tonouchi, et al.. Amorphous YBaCuO semiconducting thin films for radiation thermal detectors: migrating from IR to THz sensor optimal structure. Conference of the European Materials Science Society (E-MRS 2017), May 2017, Strasbourg, France. 2017. 〈hal-01633937〉

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