Amorphous YBaCuO semiconducting thin films for radiation thermal detectors: migrating from IR to THz sensor optimal structure

Xavier Galiano; Manjakavahoaka Razanoelina; David Alamarguy; Annick F. Dégardin; Masayoshi Tonouchi; Alain Kreisler

Amorphous YBaCuO semiconducting thin films for radiation thermal detectors: migrating from IR to THz sensor optimal structure

Xavier Galiano ¹ Manjakavahoaka Razanoelina ² David Alamarguy ¹ Annick F. Dégardin ¹ Masayoshi Tonouchi ² Alain Kreisler ¹

1 GeePs - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris

2 Institute of laser Engineering

Type de document :

Communication dans un congrès

Conference of the European Materials Science Society (E-MRS 2017), May 2017, Strasbourg, France. 2017

Domaine :

Sciences de l'ingénieur [physics] / Optique / photonique

Physique [physics] / Matière Condensée [cond-mat] / Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Sciences de l'ingénieur [physics] / Electromagnétisme

Sciences de l'ingénieur [physics] / Matériaux

Sciences de l'ingénieur [physics] / Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Sciences de l'ingénieur [physics] / Electronique

Liste complète des métadonnées

https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-01633937
Contributeur : Alain Kreisler <>
Soumis le : lundi 13 novembre 2017 - 15:31:00
Dernière modification le : vendredi 31 août 2018 - 08:54:38

Amorphous YBaCuO semiconducting thin films for radiation thermal detectors: migrating from IR to THz sensor optimal structure

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