Characterization of the piezoelectric-conversion properties of III-Nitride nanowires by conducting probe atomic force microscopy in intermittent contact mode - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Characterization of the piezoelectric-conversion properties of III-Nitride nanowires by conducting probe atomic force microscopy in intermittent contact mode

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Frédéric Houzé  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-01798287

Soumis le : mercredi 23 mai 2018-12:34:40

Dernière modification le : jeudi 14 mars 2024-19:17:51

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Dates et versions

hal-01798287 , version 1 (23-05-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01798287 , version 1

Citer

Noëlle Gogneau, Pascal Chrétien, Martina Morassi, Nicoletta Jegenyes, Laetitia Leroy, et al.. Characterization of the piezoelectric-conversion properties of III-Nitride nanowires by conducting probe atomic force microscopy in intermittent contact mode. 4th International Conference on Nanogenerators and Piezotronics (NGPT2018), May 2018, Seoul, South Korea. ⟨hal-01798287⟩

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