Physicochemical and Electrical Characterization

G. Le Rhun (1) , B. Dkhil (2) , P. Gemeiner (2)

1 CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
2 SPMS - Laboratoire Structures, Propriétés et Modélisation des solides

Mots clés: Scanning probe microscopy; Ferroelectric materials; Electrochemical strain

Domaines: Matériaux

G. Le Rhun, B. Dkhil, P. Gemeiner. Physicochemical and Electrical Characterization. Ferroelectric Dielectrics Integrated on Silicon, John Wiley and Sons, pp.159-182, 2013, 978-1-84821-313-5. ⟨10.1002/9781118602751.ch5⟩. ⟨hal-02269311⟩