Chapitre D'ouvrage
Année : 2013
Amandine Lustrement : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02285993
Soumis le : vendredi 13 septembre 2019-12:07:45
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12
Citer
P.-E. Janolin. Stress Effect on Thin Films. Ferroelectric Dielectrics Integrated on Silicon, John Wiley & Sons, Inc, pp.27-70, 2013, ⟨10.1002/9781118602751.ch2⟩. ⟨hal-02285993⟩
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