Nondestructive Incipient Crack Detection based on Wavelet and Jensen-Shannon Divergence in the NICA framework

Xiaoxia Zhang; Claude Delpha; Demba Diallo

doi:10.1109/iecon.2019.8927638

Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Nondestructive Incipient Crack Detection based on Wavelet and Jensen-Shannon Divergence in the NICA framework

(1) , (1) , (2)

1
2

Xiaoxia Zhang

Fonction : Auteur

Laboratoire des signaux et systèmes

Claude Delpha

Fonction : Auteur
PersonId : 183254
IdHAL : claude-delpha
ORCID : 0000-0003-3224-8628
IdRef : 151348480

Laboratoire des signaux et systèmes

CV

Demba Diallo

Fonction : Auteur
PersonId : 7145
IdHAL : demba-diallo
ORCID : 0000-0002-4421-6175
IdRef : 070737347

Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris

CV

Domaines

Traitement du signal et de l'image [eess.SP]

Claude Delpha : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-02295408

Soumis le : mardi 24 septembre 2019-10:59:19

Dernière modification le : dimanche 17 mars 2024-11:46:04

Dates et versions

hal-02295408 , version 1 (24-09-2019)

Identifiants

HAL Id : hal-02295408 , version 1
DOI : 10.1109/iecon.2019.8927638

Citer

Xiaoxia Zhang, Claude Delpha, Demba Diallo. Nondestructive Incipient Crack Detection based on Wavelet and Jensen-Shannon Divergence in the NICA framework. 45th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society (IECON 2019), Oct 2019, Lisbonne, Portugal. ⟨10.1109/iecon.2019.8927638⟩. ⟨hal-02295408⟩

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Nondestructive Incipient Crack Detection based on Wavelet and Jensen-Shannon Divergence in the NICA framework

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