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Patents
Procédé de détection de défauts non francs dans un câble par analyse en composantes principales
Wafa Ben Hassen 2
Author
Nicolas Ravot 2
Author
Claude Delpha 1
Author IdHAL : claude-delpha ORCID : https://orcid.org/0000-0003-3224-8628
Demba Diallo 3
Author IdHAL : demba-diallo
1
L2S - Laboratoire des signaux et systèmes (Plateau de Moulon 3 rue Joliot Curie 91192 GIF SUR YVETTE CEDEX - France)
- UP11 - Université Paris-Sud - Paris 11 (Bâtiment 300 - 91405 Orsay cedex - France)
- CentraleSupélec (3, rue Joliot Curie, Plateau de Moulon, 91192 GIF-SUR-YVETTE Cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique (France)
2
LIST - Laboratoire d'Intégration des Systèmes et des Technologies (DRT/LIST
Nano-INNOV
Avenue de la Vauve
91120 Palaiseau
- France)
- DRT (CEA) - Direction de Recherche Technologique (CEA) : DRT/LIST (France)
- CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives : DRT (Centre de Saclay Centre de Grenoble Centre de Cadarache etc - France)
3
GeePs - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (11, rue Joliot Curie
Plateau de Moulon
91192 Gif sur Yvette - France)
- UP11 - Université Paris-Sud - Paris 11 (Bâtiment 300 - 91405 Orsay cedex - France)
- CentraleSupélec (3, rue Joliot Curie, Plateau de Moulon, 91192 GIF-SUR-YVETTE Cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8507 (France)
- SU - Sorbonne Université (21 rue de l’École de médecine - 75006 Paris - France)
Document type :
Patents
Complete list of metadata
https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-02903340
Contributor : Claude Delpha Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Tuesday, July 21, 2020 - 2:03:46 AM
Last modification on : Saturday, December 4, 2021 - 4:05:19 AM
Contributor : Claude Delpha Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Tuesday, July 21, 2020 - 2:03:46 AM
Last modification on : Saturday, December 4, 2021 - 4:05:19 AM
Identifiers
- HAL Id : hal-02903340, version 1
Collections
CENTRALESUPELEC | CEA | GEEPS | DRT | LIST | SORBONNE-UNIVERSITE | SUP_LSS | CNRS | SU-SCIENCES | SUP_SIGNAUX | GS-COMPUTER-SCIENCE | GS-ENGINEERING | INSTITUT-SCIENCES-LUMIERE
Citation
Nour Taki, Wafa Ben Hassen, Nicolas Ravot, Claude Delpha, Demba Diallo. Procédé de détection de défauts non francs dans un câble par analyse en composantes principales. France, Patent n° : FR1904582. 2019. ⟨hal-02903340⟩
Metrics
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