Electrical characterization of PA-MBE grown GaN nanowires via conductive probe AFM - Effect of load and generator resistances - CentraleSupélec

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Communication Dans Un Congrès Année : 2021

Electrical characterization of PA-MBE grown GaN nanowires via conductive probe AFM - Effect of load and generator resistances

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Tanbir Sodhi

Fonction : Auteur
PersonId : 182368
IdHAL : tanbir-kaur-sodhi

Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies

Pascal Chrétien

Fonction : Auteur
PersonId : 5981
IdHAL : pascal-chretien
ORCID : 0009-0005-5177-1360

Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris

Laurent Travers

Fonction : Auteur

Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies

Frédéric Houzé

Fonction : Auteur
PersonId : 13067
IdHAL : frederic-houze
ORCID : 0000-0001-8054-3184
IdRef : 15620584X

Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris

Noëlle Gogneau

Fonction : Auteur
PersonId : 180106
IdHAL : noelle-gogneau
ORCID : 0000-0002-4881-1617
IdRef : 084148020

Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Frédéric Houzé : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-03844452

Soumis le : mardi 8 novembre 2022-17:11:17

Dernière modification le : jeudi 14 mars 2024-19:16:48

Dates et versions

hal-03844452 , version 1 (08-11-2022)

Identifiants

HAL Id : hal-03844452 , version 1

Citer

Tanbir Sodhi, Pascal Chrétien, Laurent Travers, Frédéric Houzé, Noëlle Gogneau. Electrical characterization of PA-MBE grown GaN nanowires via conductive probe AFM - Effect of load and generator resistances. Summer School of the GDR-PULSE network, Jul 2021, Porquerolles, France. ⟨hal-03844452⟩

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