Determination of defect states in semiconductors by the modulated photocurrent technique - CentraleSupélec Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2005

Determination of defect states in semiconductors by the modulated photocurrent technique

Christophe Longeaud
Laboratoire de génie électrique de Paris

Olivier Schneegans  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00321264

Soumis le : vendredi 12 septembre 2008-16:33:41

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00321264 , version 1 (12-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00321264 , version 1

Citer

Christophe Longeaud. Determination of defect states in semiconductors by the modulated photocurrent technique. XXVIII Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada- Sociedad de Fisica do Brasil, 2005, Brazil. ⟨hal-00321264⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

SUPELEC UPMC EC-PARIS CNRS SUP_LGEP CENTRALESUPELEC UNIV-PARIS-SACLAY SORBONNE-UNIVERSITE
14 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More