Caractérisations de cellules de mémoires résistives par AFM à pointe conductrice

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Contributeur : Olivier Schneegans <>
Soumis le : mardi 23 août 2016 - 11:47:09
Dernière modification le : jeudi 5 avril 2018 - 12:30:24

Identifiants

  • HAL Id : hal-01355422, version 1

Citation

Van Son Nguyen, Van Huy Mai, Alec Moradpour, Pascale Auban-Senzier, Claude Pasquier, et al.. Caractérisations de cellules de mémoires résistives par AFM à pointe conductrice. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. 〈hal-01355422〉

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