Caractérisations de cellules de mémoires résistives par AFM à pointe conductrice

Van Son Nguyen 1 Van Huy Mai 2 Alec Moradpour 3 Pascale Auban-Senzier 3 Claude Pasquier 3 Kang Wang 3 Pierre-Antoine Albouy 3 Marcelo Rozenberg 3 John Giapintzakis 4 C. N. Mihailescu 4 Orfanidou C.M. 4 Efthymios Svoukis 4 Thomas Maroutian 5 Philippe Lecoeur 5 Guillaume Agnus 5 Pascal Aubert 5 Sylvain Franger 6 Raphaël Salot 7 Katia March 3 Nathalie Brun 3 David Alamarguy 1 Pascal Chrétien 1 Olivier Schneegans 1
1 GeePs - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris
2 LIST - Laboratoire d'Intégration des Systèmes et des Technologies
3 LPS - Laboratoire de Physique des Solides
4 University of Cyprus [Nicosia]
5 IEF - Institut d'électronique fondamentale
6 ICMMO - Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux d'Orsay
7 CEA/LITEN/DTNM/LT
Type de document :
Poster
19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France
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https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-01355422
Contributeur : Olivier Schneegans <>
Soumis le : mardi 23 août 2016 - 11:47:09
Dernière modification le : jeudi 5 avril 2018 - 12:30:24

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  • HAL Id : hal-01355422, version 1

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Van Son Nguyen, Van Huy Mai, Alec Moradpour, Pascale Auban-Senzier, Claude Pasquier, et al.. Caractérisations de cellules de mémoires résistives par AFM à pointe conductrice. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. 〈hal-01355422〉

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