Caractérisations de cellules de mémoires résistives par AFM à pointe conductrice

van Son Nguyen (1) , van Huy Mai Mai (2) , Alec Moradpour (3) , Pascale Auban-Senzier (3) , Claude R. Pasquier (3) , Kang Wang (3) , Pierre-Antoine Albouy (3) , Marcelo Rozenberg (3) , John Giapintzakis (4) , C. N. Mihailescu (4) , Orfanidou C.M. (4) , Efthymios Svoukis (4) , Thomas Maroutian (5) , Philippe Lecoeur (5) , Guillaume Agnus (5) , Pascal Aubert (5) , Sylvain Franger (6) , Raphaël Salot (7) , Katia March (3) , Nathalie Brun (3) , David Alamarguy (1) , Pascal Chrétien (1) , Olivier Schneegans (1)

1 GeePs - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris
2 LIST (CEA) - Laboratoire d'Intégration des Systèmes et des Technologies
3 LPS - Laboratoire de Physique des Solides
4 UCY - University of Cyprus [Nicosia]
5 IEF - Institut d'électronique fondamentale
6 ICMMO - Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux d'Orsay
7 CEA/LITEN/DTNM/LT

Domains: Engineering Sciences [physics]; Materials; Engineering Sciences [physics]; Micro and nanotechnologies/Microelectronics; Physics [physics]; Condensed Matter [cond-mat]; Materials Science [cond-mat.mtrl-sci]

van Son Nguyen, van Huy Mai Mai, Alec Moradpour, Pascale Auban-Senzier, Claude R. Pasquier, et al.. Caractérisations de cellules de mémoires résistives par AFM à pointe conductrice. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. ⟨hal-01355422⟩