Statistical Approach for Nondestructive Incipient Crack Detection and Characterization Using Kullback-Leibler Divergence

Type de document :
Article dans une revue
IEEE Transactions on Reliability, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2016, 65 (3), pp.1360-1368. 〈10.1109/TR.2016.2570549〉
Liste complète des métadonnées

https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-01366652
Contributeur : Claude Delpha <>
Soumis le : jeudi 15 septembre 2016 - 10:02:29
Dernière modification le : jeudi 5 avril 2018 - 12:30:24

Identifiants

Citation

Jinane Harmouche, Claude Delpha, Demba Diallo, Yann Le Bihan. Statistical Approach for Nondestructive Incipient Crack Detection and Characterization Using Kullback-Leibler Divergence. IEEE Transactions on Reliability, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2016, 65 (3), pp.1360-1368. 〈10.1109/TR.2016.2570549〉. 〈hal-01366652〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

214